簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共4筆資料 檢索策略: "neural network".ekeyword (精準) and ckeyword.raw="瑕疵分類"


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    1

    AOI瑕疵影像深度學習卷積神經網路分類模型之研究
    • 工業管理系 /107/ 碩士
    • 研究生: 范姜皓 指導教授: 王孔政
    • 電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛,因此在自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)容易因敏感度提高而出現過篩現象,常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
    • 點閱:659下載:0
    • 全文公開日期 2024/07/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    2

    三階段卷積神經網絡模型應用於高速生產線之自動光學檢查系統
    • 工業管理系 /109/ 碩士
    • 研究生: 李亞璇 指導教授: 王孔政
    • 傳統的自動光學檢查(AOI)系統於處理影像時存在準確度和速度問題。本研究提出了一種基於卷積神經網絡(CNN)的三階瑕疵檢測模型,以克服傳統AOI方法的缺點,此模型並可處理多重缺陷和多鏡頭情境。在第一…
    • 點閱:250下載:0
    • 全文公開日期 2024/07/01 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/07/01 (校外網路)
    • 全文公開日期 2024/07/01 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    3

    應用影像處理與類神經網路於ITO導電玻璃 之瑕疵分類
    • 自動化及控制研究所 /95/ 碩士
    • 研究生: 陳朝治 指導教授: 蔡明忠
    • 本論文主旨在應用影像處理技術與類神經網路準確辨識出ITO導電玻璃的瑕疵種類以及分析四個特徵輸入值對於此類神經網路的準確性作探討。ITO導電玻璃常見瑕疵現象有裂痕、刮痕、粉塵、其他異物等。本論文針對上…
    • 點閱:423下載:8

    4

    高速生產線瑕疵檢測之兩階段卷積神經網絡模型
    • 工業管理系 /108/ 碩士
    • 研究生: 黃怡晶 指導教授: 王孔政
    • 高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
    • 點閱:332下載:0
    • 全文公開日期 2025/06/28 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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